Vyberte rok publikace: 1990 1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 2011 2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023 2024 vše

Rok publikace: 1996

Citace článkuVšechny časopisyBiologické časopisyChemické časopisyFyzikální časopisyLékařské časopisyMatematické časopisyČasopisy Věd o ZemiOstatní časopisy
n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.
1000x—99999x00x00x00x00x00x00x00x00x
500x—999x00x00x00x00x00x00x00x00x
200x—499x00x00x00x00x00x00x00x00x
100x—199x00x00x00x00x00x00x00x00x
50x—99x7493x3182x3227x2111x00x00x2138x174x
20x—49x20537x5131x11322x370x383x120x264x00x
10x—19x26342x339x14180x10129x00x228x00x227x
5x—9x28192x857x1495x749x217x00x15x18x
2x—4x2884x1031x1236x411x13x518x00x00x
1x—1x1414x11x1010x44x00x00x00x11x
0x—0x170x30x100x40x00x10x00x00x
Celkem1401662x33441x74870x34374x6103x966x5207x5110x

Fyzikální časopisy

Citace: 10x—19x
  1. Citováno 18x
    Chladek, M; Valvoda, V; Dorner, C; Holy, C; Grim, J. Quantitative study of interface roughness replication in multilayers using X-ray reflectivity and transmission electron microscopy. Appl. Phys. Lett.. 69, 1318-1320, 3p, ISSN/eISSN: 0003-6951/, (AUG 26 1996) ,WOS:A1996VD63200048 Citováno: 18x
  2. Citováno 17x
    Vrestal, J; Stepankova, J; Broz, P. Thermodynamics of the copper-manganese system - Knudsen-cell mass spectrometric study of the liquid Cu-Mn system and calculation of the phase diagram. Scand. J. Metall.. 25, 224-231, 8p, ISSN/eISSN: 0371-0459/, (OCT 1996) ,WOS:A1996WV99800006 Citováno: 17x
  3. Citováno 17x
    Springholz, G; Bauer, G; Holy, V. Scanning-tunneling-microscopy observation of stress-driven surface diffusion due to localized strain fields of misfit dislocations in heteroepitaxy. Phys. Rev. B. 54, 4500-4503, 4p, ISSN/eISSN: 0163-1829/, (AUG 15 1996) ,WOS:A1996VE48800033 Citováno: 17x
  4. Citováno 13x
    Zajickova, L; Ohlidal, I; Janca, J. Plasma-enhanced chemical vapour deposition of thin films from tetraethoxysilane and methanol: Optical properties and XPS analyses. Thin Solid Films. 280, 26-36, 11p, ISSN/eISSN: 0040-6090/, (JUL 1996) ,WOS:A1996VD94000005 Citováno: 13x
  5. Citováno 12x
    Kucirkova, A; Navratil, K; Pajasova, L; Vorlicek, V. Influence of oxygen concentration on optical properties of semi-insulating polycrystalline silicon films. Appl. Phys. A-Mater. Sci. Process.. 63, 495-503, 9p, ISSN/eISSN: 0947-8396/, (NOV 1996) ,WOS:A1996VR93600015 Citováno: 12x
  6. Citováno 11x
    Sicha, M; Hubicka, Z; Tichy, M; Novak, M; Soukup, L; Jastrabik, L; Behnke, JF; Kapicka, V; Kapoun, K; Sery, M. The interaction of the supersonic plasma-jet with the substrate in the RF plasma-chemical reactor. Contrib. Plasma Phys.. 36, 605-611, 7p, ISSN/eISSN: 0863-1042/, ( 1996) ,WOS:A1996VH94100005 Citováno: 11x
  7. Citováno 11x
    Springholz, G; Bauer, G; Holy, V. Local surface deformations induced by interfacial misfit dislocations in lattice-mismatched heteroepitaxy of EuTe on PbTe(111). Surf. Sci.. 365, 453-460, 8p, ISSN/eISSN: 0039-6028/1879-2758, (SEP 20 1996) ,WOS:A1996VH64500027 Citováno: 11x
  8. Citováno 10x
    Janca, J; Talsky, A; Zvonicek, V. Kinetics of O-2+TEOS gas-phase chemical reactions in a remote RF plasma reactor with electron spin resonance. Plasma Chem. Plasma Process.. 16, 187-194, 8p, ISSN/eISSN: 0272-4324/, (JUN 1996) ,WOS:A1996UM01300003 Citováno: 10x
  9. Citováno 10x
    Kunze, J; Broz, P; Sopousek, J; Gruner, W. Thermodynamic investigation of the austenite and the delta ferrite in the system Fe-Cr-Mn-N. Steel Res.. 67, 26-33, 8p, ISSN/eISSN: 0177-4832/, (JAN 1996) ,WOS:A1996TT28700006 Citováno: 10x
  10. Citováno 10x
    Navratil, V; Stejskalova, V. Microhardness of thin solid films. Phys. Status Solidi A-Appl. Res.. 157, 339-344, 6p, ISSN/eISSN: 0031-8965/, (OCT 16 1996) ,WOS:A1996VT88600015 Citováno: 10x
Staženo z wos: 31. 3. 2024 20:21:46