Vyberte rok publikace: 1990 1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 2011 2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023 2024 vše

Rok publikace: 1997

Citace článkuVšechny časopisyBiologické časopisyChemické časopisyFyzikální časopisyLékařské časopisyMatematické časopisyČasopisy Věd o ZemiOstatní časopisy
n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.
1000x—99999x00x00x00x00x00x00x00x00x
500x—999x00x00x00x00x00x00x00x00x
200x—499x00x00x00x00x00x00x00x00x
100x—199x4516x1126x2287x00x00x1103x00x00x
50x—99x14932x4275x7496x2175x158x2108x2111x00x
20x—49x29894x7213x14427x6185x4149x3108x5136x131x
10x—19x27372x451x16218x581x226x564x00x00x
5x—9x25178x1388x1178x427x215x325x00x18x
2x—4x2783x619x1133x720x14x618x00x14x
1x—1x1616x11x99x33x00x33x00x11x
0x—0x170x10x120x40x00x20x00x00x
Celkem1592991x37773x821548x31491x10252x25429x7247x444x

Fyzikální časopisy

Citace: 10x—19x
  1. Citováno 19x
    Darhuber, AA; Stangl, J; Holy, V; Bauer, G; Krost, A; Grundmann, M; Bimberg, D; Ustinov, VM; Kop'ev, PS; Kosogov, AO; Werner, P. Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by X-ray diffraction techniques. Thin Solid Films. 306, 198-204, 7p, ISSN/eISSN: 0040-6090/, (SEP 11 1997) ,WOS:000071050700005 Citováno: 19x
  2. Citováno 17x
    Novak, M; Sicha, M; Kapicka, V; Jastrabik, L; Soukup, L; Hubicka, Z; Klima, M; Slavicek, P; Brablec, A. Generation of supersonic plasma flow by means of unipolar RF discharges. J. Phys. IV. 7, 331-339, 9p, ISSN/eISSN: 1155-4339/, (OCT 1997) ,WOS:000071769900028 Citováno: 17x
  3. Citováno 17x
    Mosko, M; Munzar, D; Vagner, P. Excitonic effects in free-standing ultrathin GaAs films. Phys. Rev. B. 55, 15416-15419, 4p, ISSN/eISSN: 0163-1829/, (JUN 15 1997) ,WOS:A1997XH33500020 Citováno: 17x
  4. Citováno 14x
    Senderak, R; Jergel, M; Luby, S; Majkova, E; Holy, V; Haindl, G; Hamelmann, F; Kleineberg, U; Heinzmann, U. Thermal stability of W1-xSix/Si multilayers under rapid thermal annealing. J. Appl. Phys.. 81, 2229-2235, 7p, ISSN/eISSN: 0021-8979/, (MAR 1 1997) ,WOS:A1997WK08800027 Citováno: 14x
  5. Citováno 14x
    Cermak, J; Ruvzickova, J; Stloukal, I; Pokorna, A. Influence of boron doping and stoichiometry upon the Ni grain boundary diffusion in Ni3Al intermetallic. Scr. Mater.. 37, 31-35, 5p, ISSN/eISSN: 1359-6462/, (JUL 1 1997) ,WOS:A1997XE38500005 Citováno: 14x
Staženo z wos: 31. 3. 2024 20:21:46