Vyberte rok publikace: 1990 1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 2011 2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023 2024 vše

Rok publikace: 1999

Citace článkuVšechny časopisyBiologické časopisyChemické časopisyFyzikální časopisyLékařské časopisyMatematické časopisyČasopisy Věd o ZemiOstatní časopisy
n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.
1000x—99999x00x00x00x00x00x00x00x00x
500x—999x00x00x00x00x00x00x00x00x
200x—499x3727x2482x00x1245x00x00x00x00x
100x—199x5738x2309x2290x2271x00x00x00x00x
50x—99x13910x4265x5361x2133x00x00x4277x00x
20x—49x551727x15512x311000x17536x4122x4111x7246x123x
10x—19x39547x12183x15204x9115x335x460x229x00x
5x—9x30210x959x1283x1074x15x318x214x00x
2x—4x2785x619x1033x827x27x24x12x39x
1x—1x1010x11x44x44x11x00x00x22x
0x—0x50x00x10x30x00x10x00x00x
Celkem1874954x511830x801975x561405x11170x14193x16568x634x

Fyzikální časopisy

Citace: 5x—9x
  1. Citováno 9x
    Hinterleitner, F. Killing tensors as space-time metrics. Ann. Phys.. 271, 23-30, 8p, ISSN/eISSN: 0003-4916/, (JAN 10 1999) ,WOS:000078157700002 Citováno: 9x
  2. Citováno 8x
    Jergel, M; Mikulík, P; Majková, E; Luby, S; Senderák, R; Pincik, E; Brunel, M; Hudek, P; Kostic, I; Konecníková, A. Structural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating. J. Appl. Phys.. 85, 1225-1227, 3p, ISSN/eISSN: 0021-8979/, (JAN 15 1999) ,WOS:000077792600086 Citováno: 8x
  3. Citováno 8x
    Golnik, A; Bernhard, C; Humlicek, J; Kläser, M; Cardona, M. The far-infrared in-plane conductivity of YBaCuO studied by ellipsometry. Phys. Status Solidi B-Basic Solid State Phys.. 215, 553-556, 4p, ISSN/eISSN: 0370-1972/1521-3951, (SEP 1999) ,WOS:000082487800090 Citováno: 8x
  4. Citováno 8x
    Zhuang, Y; Holy, V; Stangl, J; Darhuber, AA; Mikulik, P; Zerlauth, S; Schäffler, F; Bauer, G; Darowski, N; Lübbert, D; Pietsch, U. Strain relaxation in periodic arrays of Si SiGe quantum wires determined by coplanar high-resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction. J. Phys. D-Appl. Phys.. 32, A224-A229, 6p, ISSN/eISSN: 0022-3727/1361-6463, (MAY 21 1999) ,WOS:000080730000045 Citováno: 8x
  5. Citováno 7x
    Klíma, M; Slavícek, P; Zajícková, L; Janca, J; Kuzmin, S; Sulovsky, P. Plasma-liquid technologies for treatment of archaeological artifacts. Czech. J. Phys.. 49, 321-328, 8p, ISSN/eISSN: 0011-4626/, (MAR 1999) ,WOS:000079249900005 Citováno: 7x
  6. Citováno 7x
    Havránková, J; Vrestál, J; Tomiska, J. Mass-spectrometric determination of thermodynamic properties of liquid Co-Cr alloys. Kov. Mater.-Met. Mater.. 37, 34-41, 8p, ISSN/eISSN: 0023-432X/, ( 1999) ,WOS:000079442300004 Citováno: 7x
  7. Citováno 7x
    Hroch, F. The robust detection of stars on CCD images. Exp. Astron.. 9, 251-259, 9p, ISSN/eISSN: 0922-6435/, ( 1999) ,WOS:000084353500005 Citováno: 7x
  8. Citováno 7x
    Ohlídal, I; Vizda, F. Optical quantities of multilayer systems with correlated randomly rough boundaries. J. Mod. Opt.. 46, 2043-2062, 20p, ISSN/eISSN: 0950-0340/, (NOV 20 1999) ,WOS:000083655100011 Citováno: 7x
  9. Citováno 7x
    Franta, D; Ohlídal, I; Munzar, D; Hora, J; Navrátil, K; Manfredotti, C; Fizzotti, F; Vittone, E. Complete optical characterization of imperfect hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry. Thin Solid Films. 343, 295-298, 4p, ISSN/eISSN: 0040-6090/, (APR 1999) ,WOS:000081103100078 Citováno: 7x
  10. Citováno 6x
    Sklenár, V; Masse, JE; Feigon, J. HCCCH experiment for through-bond correlation of thymine resonances in 13C-labeled DNA oligonucleotides. J. Magn. Reson.. 137, 345-349, 5p, ISSN/eISSN: 1090-7807/, (APR 1999) ,WOS:000079620300006 Citováno: 6x
Staženo z wos: 31. 3. 2024 20:21:46