Vyberte rok publikace: 1990 1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 2011 2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023 2024 vše

Rok publikace: 2005

Citace článkuVšechny časopisyBiologické časopisyChemické časopisyFyzikální časopisyLékařské časopisyMatematické časopisyČasopisy Věd o ZemiOstatní časopisy
n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.
1000x—99999x00x00x00x00x00x00x00x00x
500x—999x00x00x00x00x00x00x00x00x
200x—499x3946x1233x1244x1244x00x00x1469x00x
100x—199x101316x91212x1179x1104x00x00x1156x00x
50x—99x453071x231572x171104x8574x5309x00x7498x3197x
20x—49x792435x371172x32957x15455x3125x396x4117x5181x
10x—19x66951x22337x26367x22293x342x9125x7106x117x
5x—9x43290x1493x1059x1391x529x540x322x19x
2x—4x41125x1236x1029x1751x27x518x24x13x
1x—1x1414x33x33x55x11x11x11x00x
0x—0x60x00x20x30x00x00x00x00x
Celkem3079148x1214658x1022942x851817x19513x23280x261373x11407x

Fyzikální časopisy

Citace: 20x—49x
  1. Citováno 45x
    Franta, D; Negulescu, B; Thomas, L; Dahoo, PR; Guyot, M; Ohlídal, I; Mistrík, J; Yamaguchi, T. Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique. Appl. Surf. Sci.. 244, 426-430, 5p, ISSN/eISSN: 0169-4332/1873-5584, (MAY 15 2005) DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.09.150 ,WOS:000228600200098 Citováno: 45x
  2. Citováno 44x
    Houserová, J; Vrestál, J; Sob, M. Phase diagram calculations in the Co-Mo and Fe-Mo systems using first-principles results for the sigma phase. Calphad-Comput. Coupling Ph. Diagrams Thermochem.. 29, 133-139, 7p, ISSN/eISSN: 0364-5916/1873-2984, (JUN 2005) DOI: https://doi.org/10.1016/j.calphad.2005.06.002 ,WOS:000231589300006 Citováno: 44x
  3. Citováno 44x
    Trnkova, L; Jelen, F; Petrlova, J; Adam, V; Potesil, D; Kizek, R. Elimination voltammetry with linear scan as a new detection method for DNA sensors. Sensors. 5, 448-464, 17p, ISSN/eISSN: /1424-8220, (JUN-OCT 2005) ,WOS:000233333900009 Citováno: 44x
  4. Citováno 42x
    Ganciu, M; Konstantinidis, S; Paint, Y; Dauchot, JP; Hecq, M; de Poucques, L; Vasina, P; Mesko, M; Imbert, JC; Bretagne, J; Touzeau, M. Preionised pulsed magnetron discharges for ionised physical vapour deposition. J. Optoelectron. Adv. Mater.. 7, 2481-2484, 4p, ISSN/eISSN: 1454-4164/1841-7132, (OCT 2005) ,WOS:000232894100038 Citováno: 42x
  5. Citováno 37x
    Vasina, P; Mesko, M; Ganciu, M; Bretagne, J; Boisse-Laporte, C; De Poucques, L; Touzeau, M. Reduction of transient regime in fast preionized high-power pulsed-magnetron discharge. Europhys. Lett.. 72, 390-395, 6p, ISSN/eISSN: 0295-5075/, (NOV 2005) DOI: https://doi.org/10.1209/epl/i2005-10243-7 ,WOS:000233556300010 Citováno: 37x
  6. Citováno 33x
    Zajícková, L; Eliás, M; Jasek, O; Kudrle, V; Frgala, Z; Matejková, J; Bursík, J; Kadlecíková, M. Atmospheric pressure microwave torch for synthesis of carbon nanotubes. Plasma Phys. Control. Fusion. 47, B655-B666, 12p, ISSN/eISSN: 0741-3335/1361-6587, (DEC 2005) DOI: https://doi.org/10.1088/0741-3335/47/12B/S48 ,WOS:000234420700050 Citováno: 33x
  7. Citováno 30x
    Franta, D; Ohlídal, I; Petrydes, D. Optical characterization of TiO2 thin films by the combined method of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic photometry. Vacuum. 80, 159-162, 4p, ISSN/eISSN: 0042-207X/, (OCT 14 2005) DOI: https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2005.08.015 ,WOS:000232674400030 Citováno: 30x
  8. Citováno 29x
    Niedobová, E; Machát, J; Otruba, V; Kanicky, V. Vapour generation inductively coupled plasma optical emission spectrometry in determination of total iodine in milk. J. Anal. At. Spectrom.. 20, 945-949, 5p, ISSN/eISSN: 0267-9477/1364-5544, ( 2005) DOI: https://doi.org/10.1039/b504525h ,WOS:000231311000019 Citováno: 29x
  9. Citováno 24x
    Lindström, U; Rocek, M; von Unge, R; Zabzine, M. Generalized Kahler geometry and manifest N = (2,2) supersymmetric nonlinear sigma-models -: art. no. 067. J. High Energy Phys.. , -, 18p, ISSN/eISSN: 1029-8479/, (JUL 2005) ,WOS:000230854400011 Citováno: 24x
  10. Citováno 23x
    Pinkas, J. Chemistry of silicates and alumino silicates. Ceram.-Silik.. 49, 287-298, 12p, ISSN/eISSN: 0862-5468/1804-5847, ( 2005) ,WOS:000234593400011 Citováno: 23x
  11. Citováno 22x
    Chaloupka, J; Zarbakhsh, J; Hingerl, K. Local density of states and modes of circular photonic crystal cavities. Phys. Rev. B. 72, -, 5p, ISSN/eISSN: 1098-0121/, (AUG 2005) DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.72.085122 ,WOS:000231564600047 Citováno: 22x
  12. Citováno 21x
    Hinterleitner, F. Canonical doubly special relativity theory. Phys. Rev. D. 71, -, 6p, ISSN/eISSN: 1550-7998/1550-2368, (JAN 2005) DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevD.71.025016 ,WOS:000226702700093 Citováno: 21x
  13. Citováno 21x
    Franta, D; Bursíková, V; Ohlídal, I; Zajícková, L; St'ahel, P. Thermal stability of the optical properties of plasma deposited diamond-like carbon thin films. Diam. Relat. Mat.. 14, 1795-1798, 4p, ISSN/eISSN: 0925-9635/, (NOV-DEC 2005) DOI: https://doi.org/10.1016/j.diamond.2005.08.056 ,WOS:000233983600013 Citováno: 21x
  14. Citováno 20x
    Guivan, NN; Janca, J; Brablec, A; Stahel, P; Slavícek, P; Shimon, LL. Planar UV excilamp excited by a surface barrier discharge. J. Phys. D-Appl. Phys.. 38, 3188-3193, 6p, ISSN/eISSN: 0022-3727/, (SEP 7 2005) DOI: https://doi.org/10.1088/0022-3727/38/17/S21 ,WOS:000232077000023 Citováno: 20x
  15. Citováno 20x
    Mistrik, J; Yamaguchi, T; Franta, D; Ohlidal, I; Hu, GJ; Dai, N. Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry. Appl. Surf. Sci.. 244, 431-434, 4p, ISSN/eISSN: 0169-4332/1873-5584, (MAY 15 2005) DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.09.151 ,WOS:000228600200099 Citováno: 20x
Staženo z wos: 31. 3. 2024 20:21:46