2021

• Nanoimaging of Orientational Defects in Semiconducting Organic Films

  MRKYVKOVA Nada CERNESCU Adrian FUTERA Zdenek NEBOJSA Alois DUBROKA Adam SOJKOVA Michaela HULMAN Martin MAJKOVA Eva JERGEL Matej SIFFALOVIC Peter SCHREIBER Frank

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Physical Chemistry C, rok: 2021, ročník: 125, vydání: 17, DOI

2019

• Characterization of Fe2O3 thin film on highly oriented pyrolytic graphite by AFM, Ellipsometry and XPS

  KASPAR P. SOBOLA D. DALLAEV R. RAMAZANOV S. NEBOJSA Alois REZAEE S. GRMELA L.

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2019, ročník: 493, vydání: NOV 1 2019, DOI

• Characterization of the native oxide on CdTe surfaces

  SOBOLA Dinara KASPAR Pavel NEBOJSA Alois HEMZAL Dušan GRMELA Lubomir SMITH Steve

  Článek v odborném periodiku

  Materials Science-Poland, rok: 2019, ročník: 37, vydání: 2, DOI

2011

• Infrared ellipsometry of highly oriented pyrolytic graphite

  HUMLÍČEK Josef NEBOJSA Alois MÜNZ Filip MIRIC Milka GAJIC Rados

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI

2008

• Dynamics of UV degradation of PMPSi in vacuum and in the air using in-situ ellipsometry

  FIKAROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel NEŠPŮREK Stanislav HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5

• Temperature dependence of ellipsometric spectra of Fe and CrNiAl steel

  NEBOJSA Alois FIKAROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NAVRÁTIL Karel HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5

2004

• In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS

  ČECHAL Jan TICHOPÁDEK Petr NEBOJSA Alois BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ Olga URBÁNEK Michal SPOUSTA Jiří NAVRÁTIL Karel ŠIKOLA Tomáš

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2004, ročník: 2004, vydání: 36

• In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry

  BRANDEJSOVÁ Eva ČECHAL Jan BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NEBOJSA Alois TICHOPÁDEK Petr URBÁNEK Michal NAVRÁTIL Karel ŠIKOLA Tomáš HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2004, ročník: 9/2004, vydání: 9

• Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane)

  BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel NEŠPŮREK Stanislav HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455/2004, vydání: may

1999

• Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

  LORENC Michal ŠIK Jan NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel HUMLÍČEK Josef VORLIČEK V. HULICIUS E.

  Článek ve sborníku

  Workshop proceedings EW MOVPE VIII, rok: 1999