Ing. Pavel Franta

2023

• FV0343AR – optický prvek s AR pokrytím pro λ = 343 nm, R < 0,2 %, AOI = 0° - 5°, LIDT fluence > 0,3 J/cm2 pro pulsy 900 fs

  BŘEZINA Jaromír PEKAŘ Václav ŠKODA David VANDA Jan MURESAN Mihai-George NARAYANASAMY Priyadarshani MYDLÁŘ Martin OHLÍDAL Ivan DVOŘÁK Jan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel

  Year: 2023

• Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model

  FRANTA Daniel VOHÁNKA Jiří DVOŘÁK Jan FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr BŘEZINA Jaromír ŠKODA David

  Article in Periodical

  Coatings, year: 2023, volume: 13, edition: 2, DOI

2022

• Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel DVOŘÁK Jan OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Year: 2022

2021

• Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel DVOŘÁK Jan OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Year: 2021

2020

• Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Year: 2020

2019

• Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model

  FRANTA Daniel VOHÁNKA Jiří BRÁNECKÝ Martin FRANTA Pavel ČERMÁK Martin OHLÍDAL Ivan ČECH Vladimír

  Article in Periodical

  Journal of Vacuum Science & Technology B, year: 2019, volume: 37, edition: 6, DOI

• Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics

  FRANTA Daniel VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan

  Article in Periodical

  Journal of Electrical Engineering, year: 2019, volume: 70, edition: 7, DOI

2018

• Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region

  FRANTA Daniel FRANTA Pavel VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin OHLÍDAL Ivan

  Article in Periodical

  Journal of Applied Physics, year: 2018, volume: 123, edition: 18, DOI

2017

• Temperature-dependent dispersion model of float zone crystalline silicon

  FRANTA Daniel DUBROKA Adam WANG Chennan GIGLIA Angelo VOHÁNKA Jiří FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan

  Article in Periodical

  Applied Surface Science, year: 2017, volume: 421, edition: November, DOI

• Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride

  FRANTA Daniel NEČAS David GIGLIA Angelo FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan

  Article in Periodical

  Applied Surface Science, year: 2017, volume: 421, edition: November, DOI