Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

1999

• Relationship Between AFM and Optical Measurements at Analyzing Surface Roughness

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr VIČAR Martin

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 1999, ročník: 44, vydání: 10

• The influence of substrate emissivity on plasma enhanced CVD of diamond-like carbon films

  ZAJÍČKOVÁ Lenka BURŠÍKOVÁ Vilma FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Czechoslovak Journal of Physics, rok: 1999, ročník: 49, vydání: 8

1998

• Analysis of thin films with slightly rough boundaries

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel HORA Jaroslav NAVRÁTIL Karel WEBER Jan JANDA Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Mikrochim. Acta, rok: 1998, ročník: Suppl. 15, vydání: 1

• Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav VIČAR Martin KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  Proceedings of the 3th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 1998

• Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of modern optics, rok: 1998, ročník: 45, vydání: 5

• Ellipsometry of thin films

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 1998, ročník: 48, vydání: 4

• Rubidium lodide (RbI)

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Kapitola v knize

  Handbook of Optical Constants of Solids III, rok: 1998, počet stran: 14 s.

• Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel TYKAL Miroslav PRAŽÁK Dominik MICHÁLEK Aleš

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 1998, ročník: 43, vydání: 4

• Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Communications, rok: 1998, ročník: 147, vydání: 1

1997

• Analysis of single layers placed on slightly rough surfaces by spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and atomic force microscopy

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel REZEK Bohuslav OHLÍDAL Miloslav

  Článek ve sborníku

  ECASIA 97 - 7th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1997