prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2014

• Broadening of dielectric response and sum rule conservation

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: November, DOI

• Consolidated series for efficient calculation of the reflection and transmission in rough multilayers

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2014, ročník: 22, vydání: 4, DOI

• Dispersion model of two-phonon absorption: application to c-Si

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  OPTICAL MATERIALS EXPRESS, rok: 2014, ročník: 4, vydání: 8, DOI

• Improved combination of scalar diffraction theory and Rayleigh-Rice theory and its application to spectroscopic ellipsometry of randomly rough surfaces

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel NEČAS David

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: November, DOI

• Measurement of thickness distribution, optical constants, and roughness parameters of rough nonuniform ZnSe thin films

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav ČUDEK Vladimír VODÁK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Applied Optics, rok: 2014, ročník: 53, vydání: 25, DOI

• Utilization of the sum rule for construction of advanced dispersion model of crystalline silicon containing interstitial oxygen

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: november, DOI

2013

• Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan STUCHLÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 541, vydání: Aug, DOI

• Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan STUCHLÍK Jiří CHVOSTOVA Dagmar

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 539, vydání: Jul, DOI

• Ellipsometric characterization of inhomogeneous non-stoichiometric silicon nitride films

  NEČAS David FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan PORUBA Aleš WOSTRÝ Petr

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2013, ročník: 45, vydání: 7, DOI

2011

• Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI